高低溫試驗(yàn)箱用途：

高低溫試驗(yàn)箱適用產(chǎn)品零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其可靠性和各項(xiàng)性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。高低溫試驗(yàn)箱高溫工作時(shí)，可測(cè)試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象（如：填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等）；高低溫試驗(yàn)箱在低溫工作時(shí)，可測(cè)試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象（如：材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化等）。

高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

創(chuàng)新技術(shù)︰自主研發(fā)控制系統(tǒng)，具有制冷PID控制和高速處理能力，以控制小制冷量，達(dá)到節(jié)省耗電作用；

節(jié)能低碳︰自研新型電子膨脹閥控制技術(shù)，極限高溫用電量低至0.2kw/H·低溫0.7kW/H；

速率選擇︰溫變速率可達(dá)3°C /nin、5°C /min、10°C/min、15°C /min、20°C /min、25°C/min；

高度靜音︰運(yùn)行音量可達(dá)65db靜音標(biāo)準(zhǔn)，滿(mǎn)足低溫運(yùn)行1000小時(shí)不結(jié)霜技術(shù)應(yīng)用；

智能化監(jiān)控︰可以執(zhí)行遠(yuǎn)程監(jiān)控和遠(yuǎn)程控制，USB存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)傳輸，以及發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)的報(bào)警提醒；

定制化生產(chǎn)︰可以滿(mǎn)足門(mén)的規(guī)格、制冷方式、供水和語(yǔ)言選擇等定制需求。

滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.22-2002溫度變化試驗(yàn)方法；

IEC 60068-2-1：2007低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；

IEC 60068-2-2：2007高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；

GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4低溫試驗(yàn)；

IEC 68-2-1試驗(yàn)A：寒冷；IEC 68-2-2試驗(yàn)B：干熱；

IS 016750；GB/T 13543；

GB/T 13543；JESD 22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度試驗(yàn)；